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用于纳米技术的显微技术手册

作者: 本刊编辑部

  Nan Yao, Princeton University, Princeton,
  NJ, USA
  Zhong Lin Wang, Georgia Institute of
  Technology, Atlanta, GA, USA (Eds.)
  Handbook of Microscopy
  for Nanotechnology
  2005, 731 pp.
  Hardcover EUR 189.95
  ISBN 1-4020-8003-4
  Kluwer Academic Publishers
  姚楠,王中林 编
  
  本手册全面地介绍在纳米尺度上观察、描述、测量和操作材料技术的现状,论题涉及共焦光学显微技术、近场扫描光学显微技术、各种扫描探测显微技术、离子与电子显微技术、电子能量损失与X射线光谱学和电子束平板印刷技术等。每个课题均由该领域有重大贡献的世界级科学家撰写。
  全书分为两部分,共22章。第一部分光学显微技术、扫描探测显微技术、离子显微技术和纳米修整(含第1~10章),分别介绍共焦扫描光学显微技术和纳米技术、纳米科学中的近场扫描光学显微技术、隧道扫描显微技术、用原子力显微技术的纳米结构可视化、纳米尺度操作和图象成形的扫描探测显微技术、热和热电子扫描显微技术、虚拟二级离子质量光谱术、原子探测层析X射线摄影法、离子束聚焦系统―纳米技术的多功能工具和电子束平板印刷技术。第二部分电子显微技术(含11~22章),分别叙述高分辨率扫描电子显微技术、纳米尺度材料的空间高分辨率定量电子束微观分析、在电子扫描显微技术中用电子背反射衍射来描述纳晶材料、高分辨电子透射显微技术、扫描电子透射显微技术、纳米测量的原位电子显微技术、纳米技术中的环境透射显微技术、电子纳米结晶学、用透射显微技术的层析X射线摄影法、亚纳米空间可分辨的电子能量损失显微技术(EELS):方法、理论和应用;用电子透射显微技术的虚拟磁结构。
  本书全面地介绍纳米技术的各个方面,内容齐全,是一本很好的参考书,可供相关领域的工程师、科学家、大学教师、大学生和研究生阅读参考。
  
  吴永礼,研究员
  (中国科学院力学研究所)
  Wu Yongli, Professor
  (Institute of Mechanics,the Chinese Academy of Sciences)

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