用于纳米技术的显微技术手册

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　　Nan Yao, Princeton University, Princeton,
　　NJ, USA
　　Zhong Lin Wang, Georgia Institute of
　　Technology, Atlanta, GA, USA (Eds.)
　　Handbook of Microscopy
　　for Nanotechnology
　　2005, 731 pp.
　　Hardcover EUR 189.95
　　ISBN 1-4020-8003-4
　　Kluwer Academic Publishers
　　姚楠，王中林 编
　　
　　本手册全面地介绍在纳米尺度上观察、描述、测量和操作材料技术的现状，论题涉及共焦光学显微技术、近场扫描光学显微技术、各种扫描探测显微技术、离子与电子显微技术、电子能量损失与X射线光谱学和电子束平板印刷技术等。每个课题均由该领域有重大贡献的世界级科学家撰写。
　　全书分为两部分，共22章。第一部分光学显微技术、扫描探测显微技术、离子显微技术和纳米修整(含第1~10章)，分别介绍共焦扫描光学显微技术和纳米技术、纳米科学中的近场扫描光学显微技术、隧道扫描显微技术、用原子力显微技术的纳米结构可视化、纳米尺度操作和图象成形的扫描探测显微技术、热和热电子扫描显微技术、虚拟二级离子质量光谱术、原子探测层析X射线摄影法、离子束聚焦系统―纳米技术的多功能工具和电子束平板印刷技术。第二部分电子显微技术(含11~22章)，分别叙述高分辨率扫描电子显微技术、纳米尺度材料的空间高分辨率定量电子束微观分析、在电子扫描显微技术中用电子背反射衍射来描述纳晶材料、高分辨电子透射显微技术、扫描电子透射显微技术、纳米测量的原位电子显微技术、纳米技术中的环境透射显微技术、电子纳米结晶学、用透射显微技术的层析X射线摄影法、亚纳米空间可分辨的电子能量损失显微技术(EELS)：方法、理论和应用；用电子透射显微技术的虚拟磁结构。
　　本书全面地介绍纳米技术的各个方面，内容齐全，是一本很好的参考书，可供相关领域的工程师、科学家、大学教师、大学生和研究生阅读参考。
　　
　　吴永礼，研究员
　　(中国科学院力学研究所)
　　Wu Yongli, Professor
　　(Institute of Mechanics,the Chinese Academy of Sciences)

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