数字集成电路测试技术应用分析

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　　摘  要：随着社会的不断发展，科学技术的不断进步，数字集成电路技术的水平不断的上升，相比于以前的技术发展是一个领先性的发展趋势。笔者凭借自身的实践经验在文章中阐述数字集成技术的基础原理与内容，进而再一步分析在数字集成电路测试的高标准操作内容。对于不同的数字集成电路测试原理可以使用不同的数字集成电路测试系统以及不同的数字电路语言测试和不同的编程系统等。文章还从实际的角度出发，分析了当今的国内的数字集成电路的技术发展形势和对于未来的发展方向进行预测。
　　关键词：数字集成电路;测试;应用剖析;预测
　　Abstract： With the continuous development of society， the continuous advancement of science and technology， the level of digital integrated circuit technology continues to rise， and it is a leading development trend compared to the previous technology development. Based on my own practical experience， the author explains the basic principles and contents of digital integration technology in this article， and then further analyzes the high-standard operation content in digital integrated circuit testing. For different digital integrated circuit testing principles， different digital integrated circuit test systems and different digital circuit language tests and different programming systems can be used. The article also analyzes the current domestic technology development situation of digital integrated circuits and forecasts the future development direction from a practical perspective.
　　引言
　　人类科学技术的不断发展，使人类的信息化水平不断的提升，从计算机的诞生开始，集成电路技术的发展脚步就没有停下来过。由于人类对精密仪器电子的要求不断提升以及需求不断地增多，那么集成电路的制作形式也在不断的从简单的电子元件发展到小微化的大规模原件的铺设与制作，从简单走向了復杂化。在数字集成电路技术的发展中，数字集成电路的测试技术不断地发展成熟，所以数字集成电路测试技术的产业链日趋完善，进而发展为数字集成电路技术的支柱化产业。由于技术的不断发展进步，质量在不断上升的同时，相应的制作成本在不断的下降，对生产成本的压缩控制就可以使用数字电路集成测试技术对生产的各个环节进行科学合理的控制。
　　1 数字集成电路测试系统
　　数字集成电路测试系统中有对微型处理器的测试、半导体储存电路的测试、各种类型的电路测试都是其测试系统的重要且显著的特征。在测试系统的运行过程中，使用一系列的高效率的测试方式就能够把测试的电路的相关功能、以及运行交流参数等不同方面的测试一起推动进行，在测试的过程中可以依靠测试系统器材的功能和相关的测试配置、以及相关的脚本电子电路对测试电路进行合理科学的配置测试。
　　对于计算机的系统的测试，主要指的是计算机的子系统进行相应的测试。在计算机的组成结构中，子系统就包括了计算机的所有设备以及相应的操作技能，计算机的子系统可自行的完成对于计算机的相关自动测试项目的测试任务，还能够对计算机的自身机能进行高效率的测试。计算机的子系统包括了系统的运行控制器、储存器、图像编辑发生器、时间运行控制器、外部设备和电源、计算机的联结端口等部分都是属于计算机的子系统组成部分。系统控制器对于系统有着高效率运行控制，这是系统控制器最为显著的重要特点，在对相关的电路进行测试的时候，就可以依靠主要测试系统的系统控制器的强高大的处理计算分析能力对测试电路的相关测试功能进行有效的测试以及数据分析。对于提取的信息数据的储存和引脚交流，都需要和主储存器有效且稳定的连接[1]。
　　在外部设备中，由于受到不同的环境的限制以及相关的条件的变化，对于测试的主要工具还是离不开计算机，主要的外部设备一定要有图像编辑处理器、打印设备、以及相关测试内容的拷贝设备等。图像编辑控制器可以对测试图像进行生成以及智能化的进行图像的规律的合理的排列与规划，时间控制器在一定的测试环境内与图像控制器进行协同工作，以此来实现对集合方式和运行方式的选择使用。供电电源设备可以为测试过程提供所需的电量，还能够在测试的环境中做出不同的电路电子测试编程反应。对于测试的电路编程编写，可以进行精细化的、合理化的、科学化的编写，从而可以使被测试对象保持原有的完整性，尽量的减少由于测试带来的设备损害程度[2]。
　　在数字集成电路技术的发展过程中，数字电路的发展形式不断进行多样化的发展，其发展的特点出现了多样化、特殊化、个性化的发展，对于数字集成电路的发展以及相关产品的客户群对于此类产品的需求越来越高，对于质量水准不断的升高产品要求，客户群体大都是希望产品的性能、质量能够与产品的价钱相对等。那么，对于数字集成电路的测试系统的设备配置就要对质量进行严格的把关，要不断的提升产品的智能化程度和精密化程度，有足够的数据交换储存能力，以及保证产品质量的情况下要压缩产品的成本空间，从而打开相应的市场提升自我产品的竞争力。 　　2 数字集成电路测试的基础性质
　　在相关的设备的制造生产各个过程中，通过测试就能够知晓机器设备的性能、制造工艺、以及产品质量，这些要素可以将设备划分为不同的层次等级设备和不同类型用途的设备。对于设备的测试中，有几种较为常见测试方式，那就是设备的功能使用测试、各类直流的参数是否合理的测试。
　　2.1 电路的功能测试
　　对于数字化集成电路的测试中，功能测试的主要目的是测试电路功能是否达到电路设备的产品要求效果。在设备电路的输入端输入测试使用的测试图像，然后就要寻找到测试图像对设备电路刺激而产生的相应的反应信号，严格的执行电路测试过程中制定的标准化频率走势在被测试设备中输入测试图像。然后对产品的输出信号与预期的产品效果进行对比，分析其输出的信号是否与预期的产品信号有差异，以此作为设备电路性能测试的参考依据。以上过程在设备电路的功能测试中，起着重要的关键性作用。对设备电路的性能正常与否大都是以功能测试中的图像测试作为性能判断的初步步骤，优质的图像测试资源，可以快速的找到电路产品中存在的性能故障，从而让相关维护人员迅速做出判断，以此缩短测试的周期以及所耗费的成本。在数字化集成电路的测试中，矢量测试可以作为数字集成电路质量的测试功能，由于矢量测试的精准度可以反应出测试设备电路的质量问题，所以其矢量测试的优势就凸显出来了。通过组合电路的矢量测试和时间序电路的矢量测试两种方式的结果呈现，就可以使集成电路的时间序测试大大的提升测试效率。在组合电路的测试方法中有着代数法、穷举法、随机抽取法、蕴图像法等测试方法;在测试设备中，建立科学有效的测试电路测试模型，相关矢量生成储存交流器，二者的协同工作是以测试码进行交接，这种测试方式生成的测试数据就能夠使时间序电路测试体现应有的科学性与合理性。
　　2.2 直流参数测试
　　漏电测试法与电平转化测试是直流参数测试的两种主要的测试方式，笔者为相关读者剖析这两种测试方式的相关原理。
　　第一点，漏电测试法。漏电测试法有着应用的巨大优势，可以对电路设备存在的漏电缺陷问题进行精细化分析。众所周知，数字集成电路在实际的应用的过程中，由于其物理特性的表现，会出现运行中的设备期间器材老化和损耗。数字集成电路设备因为对电的需求的大且频繁，那么在设计绝缘层体的时候，就会相应的减少其绝缘体的厚度，属于物理性的特点，在电路设备的使用过程中就会出现老化、磨损、绝缘体破裂等情况，那么在集成电路的设备的使用过程中就会出现设备的漏电现象。这时候漏电测试法就能够凸显出其巨大的优势，对设备漏电的部位进行精准检测以及监测，然后对该部位进行修补，在修补的过程中就可以认识到电路设备的正常输出和输入功率。
　　第二点，电平转化测试法。电平转化测试法相比于漏电测试法而言，有着极强的电路设备测试针对性。电平转化测试法主要是对设备中的将要失去使用效用的电路部分的临界值电压进行相应的测试。这两种电路设备测试方法只是直流参数测试中的较为典型常见的两种测试方式。其他的直流参数测试方法还有接触设备测试法等。
　　2.3 交流参数测试法
　　交流参数测试法与直流参数测试法有着一定的区别，前者进行电路设备测试之后，后者再进行测试的测试方法。数字集成电路的系统技术性体现就是通过交流参数测试而体现出来的，交流参数测试对于数字集成电路的工作状态正常与否是一个重要的参数指标。交流参数测试不一定对测试电路设备的每一个项目都进行测试，主要是运用专业的，标准的仪器设备，以及科学合理的检测时间点和检测顺序关系，然后进行电路设备的检修测试，以保障数字集成电路设备的正常运行。
　　3 结束语
　　数字化集成电路的生产制造以及运用的过程中，生产的时候严格遵循科学合理的标准化操作规程，对数字集成电路设备的质量检测要严格把关。在集成设备电路设备使用的过程中，一定要严格的进行相关的科学操作规程，不得违规使用数字集成电路设备，从而避免因为设备的违规操作而造成的不必要的损失。但是，就当下的阶段社会经济发展速度来看，科学技术的水平在经济的支持之下不断的发展。数字集成电路技术的不断发展，也在不断的推动着国家的工业水平的进步。本文是笔者通过实践的调查和相关专业文献的查阅之后，而作成的文章，文中阐述了数字集成电路得到测试技术的发展，各种典型测试方式的介绍，对相关的数字集成电路基础原理和性质进行简单的介绍。数字集成电路的发展方式，一定要与过去的发展方式相区分开来，要在以往的发展模式中汲取积极有益发展内容，作为创新发展数字集成电路技术以及相关的测试技术的发展基础。在发展的过程中，要抓住国内外的最新研发成果，同时也要攻坚克难，不断的探索数字集成电路技术以及测试技术的新途径。
　　参考文献：
　　[1]韩春辉，蔡金燕，孟亚峰.基于VXIbus的数字集成电路在线测试系统的设计[J].微计算机信息，2006，22（1）：175-177.
　　[2]尹超平，张秉仁，赵吉祥.基于VIIS-EM平台的虚拟数字集成电路测试仪的设计[J].电子技术应用，2013（05）：97-100.
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